日本测补尘补产耻苍新款适用于软薄膜和薄膜的测厚仪罢翱贵-颁2
| 模型 | TOF-C2 * TOF-C 的后续型号 |
|---|---|
| 测量方法 | 非接触式/电容式 |
| 测量对象 | 薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜 |
| 测量原理 | 电容式 |
高测量分辨率
由于是非接触型，因此非常适合接触型难以测量的薄膜。
即使表面状况粗糙，也可以进行测量。
基重测量
操作简单（具有自动介电常数设置功能）
| 测量厚度 | ~ 500 微米 |
|---|---|
| 测量长度 | 10 至 10000 毫米 |
| 测量间距 | 1 毫米 ~ |
| 最小显示值 | 0.01微米 |
| 电源电压 | AC100V 50 / 60Hz |
| 工作温度限制 | 5-40℃（测量时温度变化1℃以内） |
| 湿度 | 35-80%（无冷凝） |
